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电解电容器劣化的原因

关键的外卖

  • 大多数电解电容器的退化导致一种常见的故障模式:电解液的蒸发或泄漏。

  • 为防止关键电路中的电解电容器退化,应定期安排电解电容器的计划维护、更换或交换。

  • 电容器的使用寿命在电解电容器数据表中给出,在标称电压、标称电流、上限温度和电容变化的特定限制下,tan ẟ和泄漏电流。

电解电容器

电解液泄漏是电解电容器失效的主要形式之一

在1999年至2007年期间,曾发生过“电容器瘟疫”,导致电解电容器过早退化的比率更高。造成这一特殊问题的原因是不正确的电解液配方,但在电解电容器中还有其他几种可能的失效模式。电容器失效模式在PCB中引入问题,并可能对整个电路有害。

由于过去电解电容器退化的挑战,买家现在对其耐久性和寿命格外谨慎电解电容器,因为它们是许多电路设计中必不可少的元素。设计人员了解导致电解电容器退化的原因是很重要的。

电解液泄漏导致电解电容器退化

当电解电容器出现故障时,可能是因为短路、电路损坏,甚至是爆炸。大多数电解电容器的退化是由一种常见的故障模式引起的:电解液的蒸发或泄漏。

较高的工作温度是电解泄漏或汽化的催化剂,导致电容降低和等效串联电阻(ESR)的增加。随着ESR的增加,电解电容器的自热加剧,纹波电流的应用加速了自热。过度加热形成的局部热点加速老化和磨损失效模式,最终导致电解电容退化。在最坏的情况下,自热在电解电容器内部产生气体,随后通过通风口使电解电容器爆炸。

电解电容器失效的其他原因

电解液泄漏并不是电解电容器的唯一失效方式。电解电容器的其他失效模式见下表。

失效模式

原因

电容下降或损耗因子(tan ẟ)上升

密封的化学变质导致电解液的逐渐汽化。这种失效模式降低电容,增加损耗因子或tan ẟ

棕褐色的因素

短路

电解电容器中氧化层的介电击穿导致短路。这种故障模式可能是由于工作电压、反向电压或纹波电流应用过多造成的。

开路

应用过大的机械应力或过高的电气参数,如工作电压和纹波电流,会导致电解电容器接触不良或断路。这种失效模式之前是电容下降和tan ẟ上升。电解电容器的开路失效与外加电压和温度有关。

打开通风

每当有过多的内部压力积聚或自热,电解电容器的安全出口就会打开。这种开路排气故障是由于过高的施加电压,纹波电流,反向电压和交流电流。

泄漏电流增加

电解电容器由于老化和贮存的原因,在正常使用情况下,其漏电流增大。

为了防止关键电路中由上述故障模式导致的电解电容退化,在其运行期间,应定期计划对电解电容进行维护、更换或交换有用的寿命.通常,电解电容器的使用寿命在其数据表中列出。然而,外加电压、环境温度、局部加热、反向电压、外加纹波电流和工作频率对电解电容器的使用寿命有显著影响。理解电解电容寿命在运行条件下,有助于电路设计和电路维护。

电解电容器的使用寿命

由于老化和在不同的机械和电气条件下的在线服务,电解电容器可能会失效。电解电容失效之前总是电容下降,ESR增加,tan ẟ增加。随着电解电容器内部损伤的成熟,失效的概率增加。在电解电容器失效前更换或更换是很重要的。

使用寿命在电解电容器数据表中给出了额定电压、额定电流、上限温度以及电容变化的特定限制、tan ẟ和泄漏电流。电解电容器的使用寿命因应用而异,可通过以下公式计算:

电解电容器的使用寿命

lX所得到的寿命,L0在标称条件下,KT温度因子K是多少R为纹波电流因子,KV是电压因子。

温度因子为:

温度系数

T0和T一个分别是应用程序的最高类别温度和环境温度。

纹波电流因子为:

纹波电流因子

应用纹波电流,,我一个是应用纹波电流,I0是上类温度T时的标称纹波电流0为电解电容器的芯温升,K是经验安全系数。

https://drive.google.com/file/d/1RJNhm8gSBMLafhEwvnMo1WgrWQk5BvJS/view

电压因数KV由:

电压的因素

U一个是实际工作电压,Ur为额定电压,n为指数。电压的因素

电解电容退化是一个挑战,因为它限制了关键电路的可靠性。Cadence的PCB设计和分析软件可以帮助设计人员识别可靠的电解电容器进行电路设计。

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